姓名：曹艳荣

职称：教授，博士研究生导师

学科：机械工程　

工作单位：西安电子科技大学机电工程学院

电子邮箱：yrcao@mail.xidian.edu.cn

手机：13572250916

    教授，博士生导师，2004年毕业于西安电子科技大学电子科学与技术专业，2009年3月获得西安电子科技大学微电子学与固体电子学专业博士学位，2009年4月留教于西安电子科技大学机电工程学院；

    先后承担和核心参与了国家自然科学基金重大项目、重点项目、面上项目、青年项目、国家重点研发计划、国家973计划、国家863计划、陕西省自然科学基金、航天合作等项目；

    在IEEE Transactions on Nuclear Science、Semiconductor Science and Technology、Applied Physics Letters、NSREC、Chinese Physics B等国际国内期刊会议上发表文章70余篇，均被SCI、EI检索；专著一部；申请发明专利20余项，获批十余项；

    获国防科技创新团队奖、陕西省科学技术奖一等奖、广东省机械工程学会科学技术奖二等奖、广东省机械工业科学技术奖二等奖。

1. VLSI器件可靠性研究：包括超深亚微米器件物理与可靠性研究，纳米结构器件物理与可靠性研究，VLSI新结构、新机制、新型栅介质栅金属等器件及其可靠性与加固方法研究等；
2. 新材料器件及其可靠性研究：包括GaN等宽禁带半导体材料电子器件结构、可靠性研究等；
3. 电子封装及其可靠性研究：包括微波功率器件等封装及其可靠性研究等。
   

器件及封装可靠性的研究从机理上分析和研究超深亚微米器件、新材料新结构器件、宽禁带半导体器件及器件封装的可靠性，评估器件在系统工作状态下的可靠性水平和寿命，从而指导材料的选取、生长和器件的加工工艺及封装材料和条件的选取，对早期发现系统故障有着重要的应用意义。